Kontrola starzenia się tranzystorów mocy
by
Tarek Ben Salah
,
Stéphane Lefebvre
 &
Douha Othmen
Polish
Delivery Options
Please enter pincode to check delivery time.
*COD & Shipping Charges may apply on certain items.
Review final details at checkout.
LOOKING TO PLACE A BULK ORDER?CLICK HERE

About The Book

Niniejsza książka przedstawia dogłębne badania eksperymentalne zachowania tranzystorów SiC JFET w wymagających zastosowaniach lotniczych. Opisano kompletną metodologię w tym projekt zautomatyzowanego stanowiska testowego z wykorzystaniem LabView testy wytrzymałościowe w celu określenia energii krytycznej oraz testy przyspieszonego starzenia w celu monitorowania zmian parametrów elektrycznych. Uzyskane wyniki podkreślają wiarygodne wskaźniki degradacji i otwierają interesujące perspektywy projektowania bardziej odpornych systemów elektronicznych w ekstremalnych środowiskach.
Piracy-free
Piracy-free
Assured Quality
Assured Quality
Secure Transactions
Secure Transactions
Fast Delivery
Fast Delivery
Sustainably Printed
Sustainably Printed
downArrow

Details