Polish
Paperback
₹7555
(All inclusive*)
Delivery Options
Please enter pincode to check delivery time.
*COD & Shipping Charges may apply on certain items.
Review final details at checkout.
Looking to place a bulk order? SUBMIT DETAILS
Piracy-free
Assured Quality
Secure Transactions
About The Book
Description
Author(s)
Niniejsza książka przedstawia dogłębne badania eksperymentalne zachowania tranzystorów SiC JFET w wymagających zastosowaniach lotniczych. Opisano kompletną metodologię w tym projekt zautomatyzowanego stanowiska testowego z wykorzystaniem LabView testy wytrzymałościowe w celu określenia energii krytycznej oraz testy przyspieszonego starzenia w celu monitorowania zmian parametrów elektrycznych. Uzyskane wyniki podkreślają wiarygodne wskaźniki degradacji i otwierają interesujące perspektywy projektowania bardziej odpornych systemów elektronicznych w ekstremalnych środowiskach.
Piracy-free
Assured Quality
Secure Transactions
Delivery Options
Please enter pincode to check delivery time.
*COD & Shipping Charges may apply on certain items.
Review final details at checkout.
Details
ISBN 13
9786208939489
Publication Date
-17-06-2025
Pages
-88
Weight
-132 grams
Dimensions
-152x229x5.35 mm
