Radiocristallographie

Cet ouvrage constitue un guide complet sur les notions de base de la diffraction des rayons X (DRX) l'une des techniques non destructives les plus performantes pour l'analyse structurale de la matière qu'il s'agisse de poudres ou de monocristaux. Le livre s'ouvre sur une présentation des interactions entre rayons X et matière ainsi que des conditions fondamentales de la diffraction (conditions de Laue sphère d'Ewald loi de Bragg). Il aborde ensuite en détail les facteurs de structure les intensités diffractées et la densité électronique fournissant les bases nécessaires à l'interprétation des données.Une large part est consacrée aux méthodes de diffraction qu'il s'agisse des approches sur monocristal (méthode de Laue cristal tournant Weissenberg) ou sur poudre (méthode de Debye-Scherrer) avec des explications sur les montages expérimentaux la collecte et le traitement des données. L'ouvrage met également en lumière l'utilisation de diffractomètres automatiques la simulation de diffractogrammes et les stratégies d'analyse (identification de phases quantification étude microstructurale détermination de paramètres cristallins).