Svelare il reticolo cristallino: AI-Enhanced XRD Analysis approfondisce la rivoluzionaria fusione delle tecniche di diffrazione dei raggi X (XRD) con gli algoritmi di intelligenza artificiale (AI). Poiché la XRD rimane una pietra miliare per la caratterizzazione dei materiali il libro esplora come l'integrazione dell'IA migliori l'accuratezza la velocità e l'efficienza dell'analisi XRD aprendo nuove frontiere per la ricerca e le applicazioni industriali.Il libro inizia stabilendo una solida base per l'analisi XRD evidenziandone l'importanza il contesto storico e le sfide. Introduce poi il concetto di IA e il suo potenziale impatto sull'analisi XRD. Da qui approfondisce i fondamenti della diffrazione dei raggi X fornendo ai lettori una comprensione completa della tecnica.Vengono esplorate varie tecniche tradizionali di analisi XRD tra cui l'analisi qualitativa e quantitativa l'analisi della struttura e l'analisi delle sollecitazioni residue. Il libro si addentra poi nell'apprendimento automatico e nella sua applicazione all'analisi XRD trattando la pre-elaborazione dei dati la selezione delle caratteristiche gli algoritmi di classificazione gli algoritmi di regressione e l'uso delle reti neurali e del deep learning.
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