Techniki radzenia sobie z wyciekiem w ostatnim etapie i dynamicznym spadkiem IR

W niniejszej monografii omówiono problemy związane z mocą rozpraszaną integralnością zasilania spowodowaną zapasowymi ogniwami oraz szczytowym spadkiem IR. Zakres proponowanego rozwiązania obejmuje poziom projektowania fizycznego zbliżony do zamknięcia projektu gdzie narzędzia optymalizacyjne mają ograniczone zasoby do rozwiązania tych problemów. Istnieje jednak wiele możliwości dalszych prac w innych obszarach o niskim spektrum PM takich jak poziom obwodów poziom architektury poziom projektowania i poziom kodowania oprogramowania. Większość współczesnych projektantów półprzewodników nie jest zainteresowana najnowszymi technikami takimi jak przepływy ECO macierzy bramek przy użyciu zestawów ECO dostarczanych przez dostawców bibliotek ze względu na wysiłek związany z modyfikacją istniejących przepływów i napięte harmonogramy projektowania. Proponowana technika „optymalnego przypisywania stanów może pomóc w zmniejszeniu upływu energii w komórkach zapasowych bez wpływu na przepływy projektowe ale przejście na te nowe techniki pomoże w całkowitej redukcji upływu energii w komórkach zapasowych. Innym możliwym obszarem przyszłych badań jest wykorzystanie bibliotek 65 nm 45 nm 32 nm i 28 nm do implementacji różnych architektur o intensywnym przepływie danych w celu walidacji proponowanej techniki „selektywnej redukcji zakłóceń.