Vermessung von Kristallstrukturen mit Methoden der Bildverarbeitung und Statistik

Diplomarbeit aus dem Jahr 1999 im Fachbereich Informatik - Technische Informatik Note: 1 Rheinische Friedrich-Wilhelms-Universität Bonn Sprache: Deutsch Abstract: Methoden der Bildverarbeitung werden in der Materialforschung benutzt um Verzerrungen atomarer Größenordnung vorwiegend in kristallinen Halbleiterheterostrukturen lokal quantitativ zu erfassen. Damit lassen sich andere Größen wie lokale Gitterkonstanten und lokale Konzentrationen errechnen und Rückschlüsse auf Wachstumseigenschaften ziehen. Diese Informationen werden benötigt um bestimmte Eigenschaften der Heterostrukturen zu verbessern die die Grundlage elektronischer und optoelektronischer Bauelemente wie hochintegrierter Mikrochips Halbleiterlaser und Leuchtdioden sind.